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- 日本拓普康topcon2維分光輻射計 SR-5100
日本拓普康topcon2維分光輻射計 SR-5100以非破壞?非接觸的方式,測量光源的光譜特性,材料分光穿透率及物體的分光反射率特性,擁有高分辨率(500萬像素)高量程(170億cd/m2) 透過每1nm的分光特性測量,在客戶產品質量維持上做出貢獻。廣泛應用LCD、OLED、QD、激光、Micro LED及關聯材料等的亮度?色度、分光光譜的評價,汽車儀表盤及內外裝照明的發光分布特性、分光光譜等等
- 更新日期:2024-01-17
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